Продажа оборудованияOMNISCAN X3

Omniscan X3 – полностью усовершенствованный современный дефектоскоп на фазированных решетках. Мощные инструменты, — включая метод общей фокусировки (TFM) и усовершенствованные средства визуализации, подкрепленные высоким качеством изображения, — позволят вам с большей уверенностью выполнить контроль:

Инновационный и эффективный режим TFM

Возможность заранее проверить охват луча TFM Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя. Инструмент AIM позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, план сканирования..

Использование до 4-х режимов TFM упрощает оценку и измерение размеров дефектов

Использование разных режимов TFM (групп волн) в ходе одного контроля увеличивает шансы обнаружения дефектов с нетипичной ориентацией. Дефектоскоп OmniScan X3 с возможностью использования до 4-х режимов TFM одновременно позволяет генерировать изображения под разными углами. Чувствительность и характеристики каждого режима (такие как, дифракция на концах дефекта, «угловой отражатель» и профиль дефекта) могут использоваться одновременно для подтверждения типа дефекта и более точного определения его размеров..

Улучшенная быстрая калибровка

Возможность быстро приступить к работе с помощью встроенного плана сканирования

Преимущества 64-элементной фазированной решетки Используйте весь потенциал 64-элементных ПФР с использованием дефектоскопа OmniScan X3 64 для достижения улучшенного разрешения в фокальной точке.

Доступ к полной 128-элементной апертуре TFM

Благодаря электронным компонентам нового поколения визуализация TFM предлагает лучшие возможности фокусировки в случае мелких отражателей и улучшенное отношение сигнал-шум (ОСШ). OmniScan X3 64 с 128-элементной апертурой обеспечивает высокую четкость изображения

Сбор данных TFM до 4 раз быстрее

Скорость сбора данных TFM в 4 раз выше при использовании 64-элементного ПФР. По сравнению с моделями OmniScan X3 32, OmniScan X3 64 существенно повышает эффективность контроля благодаря более широкой апертуре.

Улучшенная технология ФР

• В 3 раза быстрее по сравнению с OmniScan MX2 (максимальная ЧЗИ)

• Одно меню TOFD для ускоренного процесса калибровки

• Диапазон высоких амплитуд 800% снижает необходимость повторного сканирования

• Встроенная поддержка преобразователей Dual Linear Array™ и Dual Matrix Array™ ускоряет процесс настройки